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          數字式立式光學計JDG-S2

          數字式立式光學計JDG-S2

          產品詳情

          數字式立式光學計的具體信息:

          一、用途

          這是我廠新研制的改型產品,大量程、高精度高穩定性的光學儀器。

          本儀器是一種通過測量塊或標準零件與試件的比較來測量物體整體尺寸的儀器。主要用于精密測量五等精度量塊,一級精度柱型規及各種圓柱形、球形、線狀物體的直徑或厚度等,并對被測零件進行微小位移測量。它也可以用來控制精密零件的加工。該儀器的頭部還可以作為一個獨立的機構,在科研、生產過程控制和在線測量中測量被測零件的微位移,測量薄膜、紙張等非金屬的厚度。

          二、技術參數

          被測件較大長度:200mm

          直接測量范圍:≥10 mm

          較小顯示值:0.0001 mm

          測量力:(2±0.2)N

          大不準確度:比較測量時:±0.00025 mm;直接測量時:0.0005mm

          大測量誤差:±(0.5+L/100)μm,L是被測長度,以mm

          儀器體積:250X150X440mm

          儀器重量:18kg

          標準配件:可調帶筋園臺、可調園平臺、帶筋固定方臺

          平面測帽Ф2、平面測帽Ф8、小球面測帽、刃形測帽


          詢盤

          客服熱線:13701996977

          公司電話:021-65856698

          公司傳真:021-65468590

          辦公郵箱:643188355@qq.com

          公司地址:上海市楊浦區許昌路676號101室

          版權所有:上海立光精密儀器有限公司 備案號:滬ICP備19002604號-2手機版

           

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